自动化测试系统：该系统把探针台，矢量网络分析仪，电源，信号源等整合在一起，实现了对晶圆的自动化测试，根据map图对芯片
依次进行测试。系统实现了探针台自动扎针抬针以及自动寻找待测目标，控制电源自动上下电，控制矢量网络分析
仪自动获取测试数据以及保存测试数据等功能，系统根据芯片的指标对测试数据进行筛选，绘制出芯片性能是否合
格的map文件。
自动化分拣系统：该系统实现了对晶圆的自动化分拣，系统根据自动化测试系统导出的map文件，把性能合格的芯片进行自动分拣，
提高了分拣效率。
自动化目检系统：该系统实现了对芯片的自动化目检，系统通过图像比对功能对芯片依次进行外观检查，筛出外观不合格的芯片，最
终绘制出芯片外观是否合格的map文件。
